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冷熱沖擊試驗箱周期穩(wěn)定

冷熱沖擊試驗箱周期穩(wěn)定

簡要描述:冷熱沖擊試驗箱周期穩(wěn)定
用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、塑膠等行業(yè),國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、電子芯片IC、 半導體陶瓷及高分子材料之物理性變化,測試其材料對高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學變化或物理傷害,可確認產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機械的組件,無一不需要它的理想測試工具。

產(chǎn)品型號: TSD-80F-2P

所屬分類:二箱式冷熱沖擊試驗箱

更新時間:2024-07-02

廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

詳情介紹

冷熱沖擊試驗箱周期穩(wěn)定


執(zhí)行與滿足標準

1、GB/T2423.1-1989低溫試驗方法;      
2、GB/T2423.2-1989高溫試驗方法;      
3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗;      
4、GJB150.5-86溫度沖擊試驗;      
5、GJB360.7-87溫度沖擊試驗;      
6、GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗。      
7、SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱——一箱式      
8、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱——二箱式      
9、滿足標準IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化      
10、GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導則      
11、GB/T 2423.22-2002溫度變化      
12、QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗一般規(guī)則    
13、EIA 364-32熱沖擊(溫度循環(huán))測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估

皓天冷熱沖擊試驗箱圖片:

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冷熱沖擊試驗箱周期穩(wěn)定


樣品隔層架對試驗物的承重量:2.5kg以內(nèi),如有超重的測試物請下單時注明。
高溫上升時間約:40min
低溫下降時間約:80min
高溫槽溫度zui高可儲存至:60℃~200℃
低溫槽溫度zui低可儲存至:-70℃~-10℃
溫度移動沖擊時間在:10秒鐘內(nèi)
溫度沖擊恢復(fù)穩(wěn)定時間在:3~5分鐘內(nèi)

此設(shè)備分為高溫區(qū)、低溫區(qū)、測試區(qū)三部分,測試樣品*靜止。采用*之蓄熱、蓄冷結(jié)構(gòu),

強制冷熱風路切換方式導入測試區(qū),完成冷熱溫度沖擊測試。


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